Molecular Organic Contamination
Oznaczanie molekularnych zanieczyszczeń organicznych (MOC) powierzchni za pomocą spektroskopii w podczerwieni wg normy ECSS-Q-ST-70-05C.
Norma ta jest jedną z serii standardów ECSS przeznaczonych do wspólnego stosowania w zakresie zarządzania, inżynierii i zapewniania jakości produktów oraz zrównoważonego rozwoju w projektach i zastosowaniach kosmicznych. ECSS jest wspólnym wysiłkiem Europejskiej Agencji Kosmicznej (ESA), krajowych agencji kosmicznych i europejskich stowarzyszeń branżowych w celu opracowania i utrzymania wspólnych standardów.
Analizę jakościową w podczerwieni przeprowadzamy poprzez identyfikację wybranych grup funkcyjnych lub przez porównanie widm absorpcji IR nieznanych materiałów z widmami znanych materiałów referencyjnych. Dzięki temu możemy określić informacje strukturalne o rodzajach molekularnych zanieczyszczeń. W niektórych przypadkach można wykryć bezpośrednie źródło zanieczyszczenia. Oferowana analiza ilościowa poziomów zanieczyszczeń w podczerwieni opiera się na prawie Lamberta-Beera i wymaga kalibracji. Monitorowanie spektroskopią w podczerwieni służy do sprawdzenia, czy spełnione są rygorystyczne kontrole zanieczyszczenia i czystości stosowane w odniesieniu do materiałów statków kosmicznych i innych urządzeń specjalnego przeznaczenia.
---
Oferujemy następujące metody pomiaru zanieczyszczeń MOC dla węglowodorów (CHx), karboksyli (C=O) oraz silikonów metylowych (Si-CH3) i metylowo-fenylowych (Si-CH3-C6H5):
Metoda bezpośrednia Czyste nośniki (CaF2) transparentne w podczerwieni, umieszczane są w miejscu powstawania zanieczyszczeń, na przykład w pomieszczeniu próżniowym, pomieszczeniach czystych (ang. clean room) lub aparaturze kosmicznej. Zanieczyszczenie nośników jest następnie analizowane za pomocą spektrofotometru FTIR. Norma ma zastosowanie do kontrolowania i wykrywania zanieczyszczeń organicznych na wszystkich załogowych i bezzałogowych statkach kosmicznych, rakietach nośnych, ładunkach wysyłanych w kosmos oraz eksperymentach w naziemnych obiektach do testowania próżni i pomieszczeniach czystych
Metoda pośrednia Zanieczyszczenia na badanej powierzchni są zbierane za pomocą techniki zagęszczania, na przykład poprzez mycie lub wycieranie większej powierzchni. Taka powierzchnia może być również płytą obserwacyjną poddaną ekspozycji, z której następnie usuwa się zanieczyszczenia i transferuje do rozpuszczalnika (chloroform). Powstała w ten sposób zanieczyszczona ciecz lub warstwa jest następnie przetwarzana, a na koniec za pomocą spektrofotometru IR analizowany jest nośnik zanieczyszczenia (CaF2).
W wyniku przeprowadzonych przez nas, na zlecenie ESA, badań międzylaboratoryjnych wśród europejskich producentów sprzętu kosmicznego, metoda bezpośrednia wykazała większą wiarygodność, ponieważ próbki nie wymagają przenoszenia zanieczyszczeń z nośnika na płytki CaF2, a tym samym zmniejsza się błąd oznaczania ilościowego. Natomiast metoda pośrednia pozwala na zagęszczenie próbki i dlatego może zapewnić wyższą czułość.
---
Przykładowa oferta oznaczeń MOC
